Máy XRF Đo Độ Dày Lớp Phủ Công Ty TNHH XNK Kỹ Thuật Khang Thịnh
- 29
- 0
Máy XRF đo độ dày lớp phủ FT110A có chức năng lấy nét tự động mới tự động lấy nét trên mẫu để thu được hình ảnh quang học trong vòng vài giây. Không cần điều chỉnh thủ công, cho phép phân tích lượng mẫu lớn với năng suất cao.
Các ưu điểm:
Hoạt động dễ dàng
Đo chính xác độ dày lớp phủ Au 50 nm trong 10 giây
Phép đo không có mẫu chuẩn
Định vị dễ dàng bằng Hệ thống Wide View (tùy chọn)
Liên hệ:
0867.743.986
- 41
- 0
Được trang bị quang học hội tụ tia X đa mao quản và máy dò trôi silicon, FT160 cho phép đo độ chính xác cao và thông lượng cao trong phép đo độ dày lớp phủ theo thứ tự nano của các bộ phận điện tử.
Liên hệ:
0867.743.986
- 37
- 0
Máy phân tích XRF để bàn FT230 đã được thiết kế để giảm đáng kể thời gian thực hiện phép đo. Nhận thấy rằng tốn nhiều thời gian nhất cho việc thiết lập mẫu và lựa chọn công thức đo lường, các kỹ sư tại Hitachi đã tạo ra một máy phân tích đột phá có thể tự “thiết lập” hiệu quả, giúp bạn có thể phân tích nhiều bộ phận khác trong một ca làm việc.
Liên hệ:
0867.743.986
Đã được thêm vào giỏ hàng